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概述
・ 偏光板樹脂片中的異物、划痕、污垢、細痕等
自動檢測凹痕、凹痕、白斑等缺陷的設備。
特徵
・ 卷對卷檢查。
・ 穩定的實時連續檢測處理和標記
技術。
・ 高分辨率檢測、微小缺陷檢測技術。
-致命缺陷提取和分類。
・ 微小缺陷的高速審查技術。
・ 獲得日本主要薄膜製造商認可的設備。
規格
・ 缺陷對象：異物、划痕、污垢、划痕、凹痕、
酒窩、白癜風等。
・ 檢查對象： TAC：
三乙酰纖維素（偏光膜保護膜），
PVA（偏光基材膜）、PF（偏光保護膜）
・相機：採用線傳感器
* 請聯繫我們了解詳細的結構和規格。
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